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shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量MCT-510/MCT-210的介紹低試驗(yàn)力型(試驗(yàn)力范圍9.8~4903mN)、高試驗(yàn)力型(9.8~1961mN)、高分辨率型(位移范圍0.001μm~10μm)和寬量程測(cè)量型(0.01μm~100μm) , 并且通過將它們結(jié)合起來,可以對(duì)電子、陶瓷、微型機(jī)械、食品和藥品等各種微材料進(jìn)行抗壓強(qiáng)度測(cè)試。
聯(lián)系電話:
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室 |
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shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量MCT-510/MCT-210的介紹
shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量MCT-510/MCT-210的介紹
低試驗(yàn)力型(試驗(yàn)力范圍9.8~4903mN)、高試驗(yàn)力型(9.8~1961mN)、高分辨率型(位移范圍0.001μm~10μm)和寬量程測(cè)量型(0.01μm~100μm) , 并且通過將它們結(jié)合起來,可以對(duì)電子、陶瓷、微型機(jī)械、食品和藥品等各種微材料進(jìn)行抗壓強(qiáng)度測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)配備樣品量測(cè)量功能,可以評(píng)估測(cè)試材料的強(qiáng)度。
也可以觀察樣本是如何壓縮的(可選)。
它還可用于 PC 屏幕上的長(zhǎng)度測(cè)量、導(dǎo)電微粒的電阻測(cè)量設(shè)備以及可以在將樣品加熱到 50°C 至 250°C 的同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)。
可在壓縮過程中從橫向觀察樣品的變形狀態(tài)(選件)。
類型名稱 | MCT-510 | MCT-511 | MCT-210 | MCT-211 |
試驗(yàn)力 | 9.8~4903mN | 9.8~1961mN | ||
位移測(cè)量范圍 | 0-100μm | 0-10微米 | 0-100μm | 0-10微米 |
合規(guī)樣品 | 1μm以上的微量樣品(顆粒、纖維等) | |||
上壓板(壓頭) | 平面壓頭(直徑 50 μm) | |||
顯微鏡倍率 | 100x、500x(物鏡 10x/50x;目鏡 10x) *提供 200、400 和 1000x 選項(xiàng) |